Kai Siegbahn
Wikipedia
| Syntynyt | 20. huhtikuuta 1918 Lund, Ruotsi |
|---|---|
| Kuollut | 20. heinäkuuta 2007 Ängelholm, Ruotsi |
| Asuinpaikka |  Ruotsi |
| Kansalaisuus | Ruotsalainen |
| Tutkimusalue | Fysiikka |
| Instituutti | Tukholman yliopisto Uppsalan yliopisto |
| Tutkinnot | Tukholman yliopisto |
| Tunnetuimmat työt | Korkea tarkkuuksinen elektronispektroskopian kehittäminen |
| Huomionosoitukset |  Nobelin fysiikanpalkinto (1981) |
Kai Manne Börje Siegbahn (20. huhtikuuta 1918 – 20. heinäkuuta 2007) oli ruotsalainen fyysikko. Siegbahnille, Arthur Schawlowille ja Nicolaas Bloembergenille myönnettiin Nobelin fysiikanpalkinto vuonna 1981 korkearesoluutioisen elektronispektroskopian kehittämisestä. Siegbahn työskenteli aktiivisesti Ångström-laboratoriossa, Uppsalan yliopistossa.
Sisällysluettelo |
[muokkaa] Elämäkerta
Kai Siegbahn syntyi vuonna 1918 Lundissa, Ruotsissa. Hän oli Nobelin fysiikanpalkinnon voittaneen Karl Manne Siegbahnin sekä Karin Högbomin poika.[1] Siegbahn kävi Uppsalan lukiota ja jatkoi opsikelua Uppsalan yliopistossa sekä Tukholman yliopistossa. Siegbahn väitteli Tukholman yliopistossa filosofian tohtoriksi vuonna 1944.
Siegbahn sai fysiikan professuurin Kuninkaalisesta teknillisestä korkeakoulusta vuonna 1951 ja kolme vuotta myöhemmin siirtyi Uppsalan yliopistoon, jossa hän toimi professorina eläköitymiseensä, vuonna 1984, asti.[2]
Siegbahn solmi avioliiton Anna Brita Rhedinin kanssa 23. toukokuuta vuonna 1944. Suhteeseen syntyi kolme poikaa: Per (1945), Hans (1947) ja Nils (1953).[1]
[muokkaa] Tieteellinen ura
Nobel-palkitussa työssään Siegbahn luo pohjan niin sanotulle XPS-tekniikalle (myös käytetään myös lyhennystä ESCA) sekä kehitti tarvittavia hienostuneita instrumentteja käyttötarkoitusta varten.[2] XPS perustuu pohjimmiltaan valosähköiseen ilmöön, jossa elektroneja emitoituu kun metalleihin kohdistetaan tarpeeksi suuri taajuista sähkömagneettista säteilyä. Siegbahnin saavutus oli se, että hän kehitti menetelmän, minkä avulla pystytään mittaamaan emitoituneiden elektronien energia, joka on kullekin alkuaineelle ominainen. XPS mahdollistaa aineiden pintakerrosten alkuainejakauman analysoinnin 0,1 atomiprosentin pitoisuuksiin saakka. Poikkeuksena ovat vety ja helium. XPS ei vaurioita tutkittavaa näytettä ja se soveltuu johteiden, puolijohteiden sekä eristemateriaalien tutkimukseen. XPS:n avulla voidaan erottaa pinnan kemiallisen koostumuksen lisäksi myös pinnalla olevat yhdistemuodot, kuten esimerkiksi fluorin ioniset- ja kovalenttiset sidokset.[3]
[muokkaa] Lähteet
- ↑ 1,0 1,1 Kai M. Siegbahn NNDB.com. Viitattu 20. lokakuuta 2007. (englanniksi)
- ↑ 2,0 2,1 Kai Manne Börje Siegbahn Encyclopaedia Britannica. Viitattu 20. lokakuuta 2007. (englanniksi)
- ↑ Prof. Mika Valden: XPS/ESCA: Röntgenviritteinen fotoelektronispektroskopia. Viitattu 20. lokakuuta 2007.
[muokkaa] Aiheesta muualla
- Curriculum Vitae Nobel-säätiön sivuilla (englanniksi)
- Lyhyt elämäkerta Siegbahnista (englanniksi)
