扫描隧道显微镜
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扫描隧道显微镜（scanning tunneling microscope，缩写为STM），亦称为掃描穿隧式顯微鏡，是一种利用量子理论中的隧道效应探测物质表面结构的仪器。它于1981年由格尔德·宾宁及海因里希·罗雷尔在IBM位于瑞士苏黎世的苏黎世实验室发明，两位发明者因此与恩斯特·鲁斯卡分享了1986年诺贝尔物理学奖。
它作为一种扫描探针显微术工具，扫描隧道显微镜可以让科学家观察和定位单个原子，它具有比它的同类原子力显微镜更加高的分辨率。此外扫描隧道显微镜在低温下（4K）可以利用探针尖端精确操纵原子，因此它在纳米科技既是重要的测量工具又是加工工具。
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[编辑] 概述
扫描隧道显微镜是一种利用量子力学的隧道效应的非光学显微镜。
[编辑] 基本结构
[编辑] 工作方式及理论基础
它主要是利用一根非常細的鎢金屬探針，針尖電子會跳到待測物體表面上形成穿隧電流，同時，物體表面的高低會影響穿隧電流的大小，針尖隨著物體表面的高低上下移動以維持恆定的電流，依此來觀測物體表面的形貌。
[编辑] 应用
這種儀器可以觀察到物體表面的奈米結構，是顯微鏡技術的一大進展，也成為往後奈米技術中的主要分析工具，專門用來觀測金屬或半導體的表面。
[编辑] 扫描隧道能谱
[编辑] 参见
[编辑] 外部链接
