Fáziskontraszt-mikroszkóp

A Wikipédiából, a szabad enciklopédiából.

A fáziskontraszt berendezés egy speciális kondenzorból és úgynevezett fáziskontraszt objektívből áll, ezekkel kell a közönséges mikroszkópot kiegészíteni. A fáziskontraszt eljárással kapott kép igen kontrasztos, és ezért különösen jól használható szövettenyészetben az alaphoz letapadt, elvékonyodott sejtek, valamint nagyon vékony (0,1-1 μm) festetlen metszetek vizsgálatára. A módszernek előnytelen tulajdonsága, hogy különösen az erős kontrasztot adó struktúrák körül fényudvar (halo) keletkezik, amely zavarja a képalkotást.

[szerkesztés] A fáziskontraszt módszer elve

A kondenzorlencse alá olyan átlátszatlan lemezt helyeznek, amelyen a fényzáró réteg gyűrű alakú áteresztő területet tartalmaz („gyűrű-diafragma”). A kondenzorból a preparátum felé kilépő sugár ezért henger- vagy kúppalást mentén halad át a tárgyon, majd képeződik le az objektív gyújtópontjában. Az objektív felett gyűrű alakú rápárologtatott réteget tartalmazó lemez van, amely a hengerpalást mentén jövő (összehasonlító) fénysugarat a hullámhossz negyedrászável fázisban eltolja („fázislemez”). A vizsgálandó preparátum optikailag sűrűbb részleteiből jövő, fáziskésést szenvedett tört sugarak nem haladnak át a fázisgyűrűn és a képsíkban egyesülnek az összehasinlító sugarakkal, interferálnak azokkal. Ez ahhoz vezet, hogy a sugarak kioltják (vagy vastagabb struktúrák esetén erősítik) egymást, miáltal a tárgy különböző törésmutatójú és vastagságú komponensei különböző mértékben sötétnek (esetleg világosnak látszanak). A fázislemez azt a célt szolgálja, hogy az aránylag kis fáziskésést szenvedett sugarak esetén is aránylag nagy legyen a fáziskülönbség és így a kontraszt. ^{[1] [2]}

[szerkesztés] Lásd még

• Mikroszkóp
• Fénymikroszkóp
• Ultraibolya-mikroszkóp
• Ultramikroszkóp
• Konfokális pásztázó mikroszkóp
• Lumineszcencia-mikroszkóp
• Binokuláris mikroszkóp
• Polarizációs mikroszkóp
• Sztereomikroszkóp
• Elektronmikroszkóp
• Pásztázó elektronmikroszkóp
• Transzmissziós elektronmikroszkóp
• Atomerő mikroszkópia (AFM)
• Elektrosztatikus mikroszkóp
• Mágneses erőmikroszkóp
• Pásztázó alagútmikroszkóp
• Közeli mező optikai mikroszkópia (NSOM)
• Spektroszkópia
• akusztikus mikroszkóp

[szerkesztés] Referenciák