Elektronimikroskooppi
Wikipedia
Elektronimikroskooppi on mikroskooppi, jossa käytetään näkyvän valon sijasta elektronisuihkua. Tämä mahdollistaa tavallista valomikroskooppia huomattavasti pienempien yksityiskohtien havaitsemisen. Ensimmäisen elektronimikroskoopin rakensi saksalainen fyysikko Ernst Ruska vuonna 1932 toisen saksalaisen fyysikon Max Knollin kanssa. Ruskalle myönnettiin Nobelin fysiikanpalkinto vuonna 1986. Suomen ensimmäisen elektronimikroskoopin rakensi Alvar Wilska.
Elektronimikroskoopin erottelukyky on noin 2 nm. Eli sillä voidaan erottaa huomattavasti pienempiä rakenteita kuin valomikroskoopilla. Elektronimikroskoopilla voidaan erottaa solusta eri soluorganelleja, kun taas valomikroskoopilla erotetaan lähinnä solukalvo, solulima ja tuma.
Sisällysluettelo |
[muokkaa] Elektronimikroskoopin periaate
[muokkaa] Elektronitykki ja säteen ohjaus
Elektronimikroskoopin elektronisuihku muodostetaan mikroskoopin ylimmässä osassa, elektronitykissä. Tykki on sisältä tyhjiö, niin kuin koko mikroskoopin sisäosat. Tykin sisällä on hehkulanka, josta irrotetaan elektroneja korkean jännitteen (20-1000 kV) avulla. Kiihdytetyt elektronit ohjataan mikroskoopin optiikkaan, joka koostuu sähkömagneettilinsseistä ja apertuureista. Elektronisuihku käyttäytyy kuten hiukkassuihku ja sitä voidaan fokusoida ja poikkeuttaa magneettilinssien avulla.
[muokkaa] Kuvan muodostaminen
Elektroneilla voidaan muodostaa kuva seuraavilla tavoilla:
- 1. Skannataan näytteen pintaa elektronisuihkulla ja muodostetaan kuva takaisin sironneiden elektronien tai ns. sekundäärielektronien avulla
- 2. Skannataan ohuen näytteen pintaa elektronisuihkulla ja muodostetaan kuva läpimenneiden elektronien avulla
- 3. Kohdistetaan suihku sopivan leveänä ohuen näytteen pintaan ja muodostetaan läpimenneillä elektroneilla kuva fluresoivalle levylle
Kohdan 1. kuvan muodostukseen käytetään ns. pyyhkäisyelektronimikroskooppia (engl. Scanning Electron Microscope, SEM), kohdan 2. kuvan muodostukseen ns. pyyhkäisy-läpivalaisuelektronimikroskooppia (engl. Scanning Transmission Electron Microscope, STEM) ja kohdan 3. kuvan muodostukseen ns. läpivalaisuelektronimikroskooppia (engl. Transmission Elektron Microscope, TEM).
[muokkaa] Elektronidiffraktio
Elektronisuihku käyttäytyy kiteisessä materiaalissa kuin aaltoliike, eli siroaa kiderakenteen edellyttämällä tavalla, kuten röntgenaallot. Siksi elektronimikroskooppi antaakin hyvät mahdollisuudet tutkia myös aineen kiderakennetta samanaikaisesti mikroskooppisen tutkimuksen kanssa.
[muokkaa] Analyysilaitteet
Elektronisuihku herättää näytteessä myös röntgensäteilyä, jonka spektriä analysoimalla päästään kiinni tutkittavan materiaalin kemialliseen koostumukseen. Röntgenspektrometrejä on sekä energia- (EDS) että aaltodispersiivisiä (WDS). Läpivalaisumikroskoopissa voidaan mitata myös elektronien näytteen läpäistessään menettämä energia, ns. energy-loss-spektri, joka kertoo myös näytteen koostumuksesta.
[muokkaa] Muut oheislaitteet
Elektroniikan ja tietotekniikan kehittyminen on mahdollistanut myös ns. kuva-analyysin teon elektronimikroskoopissa. Näin esimerkiksi sulkeuma-analyysin teko SEM:iin kytketyn röntgenanalysaattorin ja kuva-analysaattorin avulla on antanut sulametallurgiaan uutta ulottuvuutta.
