تصویر:Fib tem sample.jpg
از ویکیپدیا، دانشنامهٔ آزاد.
اندازهٔ این پیشنمایش: ۷۶۸ × ۶۰۰ پیکسل
تصویر با تفکیکپذیری بالاتر (۱٬۰۲۴ × ۸۰۰ پیکسل، اندازهٔ پرونده: ۲۰۵ کیلوبایت، نوع MIME: image/jpeg)
تاریخچه پرونده
روی تاریخها کلیک کنید تا نسخهٔ مربوط را ببینید.
تاریخ | ابعاد | کاربر | توضیح | |
---|---|---|---|---|
نسخهٔ فعلی | ۳ فوریهٔ ۲۰۰۷، ساعت ۱۴:۳۶ | ۱٬۰۲۴ در ۸۰۰ (۲۰۵ کیلوبایت) | EdC | ({{Information |Description=SEM micrograph of a wide-bandgap semiconductor prepared for TEM by focused-ion-beam milling. |Source=English wikipedia |Date=9 March 2006 |Author=english User:Cm the p |Permission= |other_versions= }} [[category:Focused Ion Bea) |
پیوندهای تصویر
صفحههای زیر به این تصویر پیوند دارند:
متاداده
این پرونده حاوی اطلاعات اضافهای است که احتمالاً توسط دوربین دیجیتالی یا پویشگری که در ایجاد یا دیجیتالیکردن آن به کار رفتهاست، افزوده شدهاست. اگر پرونده از وضعیت ابتداییاش تغییر داده شده باشد آنگاه ممکن است شرح و تفصیلات موجود اطلاعات عکس را تماماً بازتاب ندهد.
جهت | عادی |
---|---|
تفکیکپذیری افقی | 100 نقطه در اینچ |
تفکیکپذیری عمودی | 100 نقطه در اینچ |
نرمافزار استفادهشده | Adobe Photoshop CS Windows |
تاریخ و زمان تغییر پرونده | ۹ مارس ۲۰۰۶، ساعت ۰۷:۰۸ |
فضای رنگی | 65535 |